Die Lasersensoren der Reihe optoNCDT 1420 werden auf eine neue Leistungsstufe gehoben. Mit verdoppelten Messraten, einer 16 Bit Digital/Analog-Wandlung und der Schutzartz IP67 sind sie nun die schnellsten Lasersensoren ihrer […]
Autor: Firma MICRO-EPSILON-MESSTECHNIK GmbH & Co. K.G.
Laserscanner für große Messbereiche
Mit scanCONTROL Laserscannern werden Profilmessungen auf nahezu allen Oberflächen ermöglicht. Für die scanCONTROL LLT30xx-Serie sind ab sofort zwei neue Messbereiche verfügbar. Zusammen mit den neuen Modellen werden im Gesamtportfolio nun […]
Performance-Steigerung für Laserscanner scanCONTROL
Die Leistungsfähigkeit der scanCONTROL 3000 Laserscanner wurde gesteigert: Verbesserte Algorithmen und Komponenten erhöhen die Datenerfassung- und ausgabe auf bis zu 10 Mio. Messpunkte pro Sekunde. Bei den Smartsensoren erhöht sich […]
Neues Interferometer zur hochpräzisen Wafer-Dickenmessung
Das Weißlicht-Interferometer IMS5420-TH eröffnet neue Perspektiven in der industriellen Dickenmessung von monokristallinen Siliziumwafern. Dank der breitbandigen Superlumineszenzdiode (SLED) kann das IMS5420-TH sowohl für undotierte, dotierte sowie für hochdotierte SI-Wafer eingesetzt […]
Farbmessung: Schnell, präzise, vielseitig
Der colorSENSOR CFO250 ist ein leistungsstarker Farbsensor – ideal geeignet für die industrielle Farbprüfung in der laufenden Produktion, wenn hohe Geschwindigkeiten gefordert sind. Mit dem CFO250 reiht sich ein schneller […]
Robuste Laser-Distanzsensoren für den Außeneinsatz
Der neue Laser-Distanzsensor optoNCDT ILR1171-125 wird für Distanzmessungen bis zu 270 m eingesetzt und überzeugt insbesondere bei Messaufgaben im Außenbereich. Dank Time-of-Flight Prinzip und hoher Messrate bis zu 40 kHz […]
Kleiner Lasersensor mit höchster Leistung
Die Lasersensoren der Reihe optoNCDT 1420 werden auf eine neue Leistungsstufe gehoben. Mit verdoppelten Messraten, einer 16 Bit Digital/Analog-Wandlung und der Schutzartz IP67 sind sie nun die schnellsten Lasersensoren ihrer […]
Laserscanner für große Messbereiche
Mit scanCONTROL Laserscannern werden Profilmessungen auf nahezu allen Oberflächen ermöglicht. Für die scanCONTROL LLT30xx-Serie sind ab sofort zwei neue Messbereiche verfügbar. Zusammen mit den neuen Modellen werden im Gesamtportfolio nun […]
Performance-Steigerung für Laserscanner scanCONTROL
Die Leistungsfähigkeit der scanCONTROL 3000 Laserscanner wurde gesteigert: Verbesserte Algorithmen und Komponenten erhöhen die Datenerfassung- und ausgabe auf bis zu 10 Mio. Messpunkte pro Sekunde. Bei den Smartsensoren erhöht sich […]
Neues Interferometer zur hochpräzisen Wafer-Dickenmessung
Das Weißlicht-Interferometer IMS5420-TH eröffnet neue Perspektiven in der industriellen Dickenmessung von monokristallinen Siliziumwafern. Dank der breitbandigen Superlumineszenzdiode (SLED) kann das IMS5420-TH sowohl für undotierte, dotierte sowie für hochdotierte SI-Wafer eingesetzt […]