SPECTRO XEPOS: Herausragende ED-RFA-Analytik weiter verbessert

Das neueste SPECTRO XEPOS zeichnet sich durch zahlreiche Verbesserungen aus, darunter:

• Verbesserte Spektrenentfaltung für eine höhere Genauigkeit der Screening-Methoden – selbst bei schwierigen Proben mit komplexen Spektren.
• Bis zu 2x kürzere Messzeiten als das Vorgängermodell – bei vergleichbarer Präzision. Die Geschwindigkeit kann insbesondere bei Anwendungen mit hohen Zählraten ein entscheidender Vorteil sein. Für viele Proben ist eine vollständige Analyse innerhalb von ein bis zwei Minuten abgeschlossen.
• Durch ein neues Multilayer-Paket kann das SPECTRO XEPOS nun die Dicke (bis in den Nanometerbereich) und Zusammensetzung von bis zu acht Schichten und für bis zu 55 Elemente auf einem Substrat analysieren. Das Paket vereinfacht die Messung erheblich, da die Notwendigkeit von Schichtkalibrierungsproben entfällt. Es liefert eine referenzfreie Analytik, die allein auf festen Reinstproben basiert.

Insbesondere bei anspruchsvollen Aufgaben spielt das SPECTRO XEPOS seine Stärken aus – egal ob es dabei um schnelle Übersichtsanalysen oder präzise Qualitätskontrollen geht. Es ist prädestiniert für eine Vielzahl von Anwendungen, wie beispielsweise in der Petrochemie/Chemie, für die Analyse von Umwelt- bzw. geologischen Proben, Erzen/Konzentraten/Tailings, Klinker/Zement/Schlacke, Kosmetika, Nahrungs- und Futtermittel, pharmazeutischen Proben und vielen mehr.

Durch vier Modellvarianten wird die Leistung für die jeweils relevanten Elementgruppen in den entsprechenden Matrices optimiert.

Zu den weiteren Merkmalen des SPECTRO XEPOS gehören eine innovative 50 W / 60 kV Röntgenröhre und eine einzigartige adaptive Anregungstechnologie, die für die höchstmögliche Messempfindlichkeit sorgt und auf die gewünschten Zielelemente optimiert ist. Die „SPECTRO XRF Analyzer Pro” Analysesoftware bietet bewährten Komfort und eine Reihe optionaler vorkalibrierter Anwendungspakete. Zudem ermöglicht das einzigartige TurboQuant II-Analytikpaket des SPECTRO XEPOS eine schnelle und präzise Analyse unbekannter Flüssigkeiten, Pulvern und Feststoffen aller Art.

Zusätzliche Verbesserungen beinhalten ein Niedrigenergiefenster-Detektor zur Verbesserung von Routineanalysen, erweiterte Kalibrierbereiche, um den neuen Fähigkeiten des Geräts gerecht zu werden, sowie eine einfache Übertragung von Kalibrationen auf andere Geräte derselben Bauart.

Darüber hinaus maximieren die AMECARE Performance Services die Betriebszeit aller Elementanalysegeräte von SPECTRO. Hunderte von erfahrenen Service-Ingenieuren in 50 Ländern bieten hochwertigen, maßgeschneiderten Support, um eine optimale Leistung und eine möglichst lange Lebensdauer der Geräte zu gewährleisten.

Die neueste Generation des SPECTRO XEPOS ist ab sofort über SPECTRO Analytical Instruments erhältlich. Weitere Informationen finden Sie auf www.spectro.de oder kontaktieren Sie SPECTRO per E-Mail: spectro.info@ametek.com.